Een schadeonderzoek kan je best vergelijken met detectivewerk. Hiervoor heb je een arsenaal aan tools nodig om exacte aanwijzingen te vinden die kunnen leiden naar de root cause. In het volgend artikel, gaan we dieper in op een van de belangrijkste tools van ons in-house Sherlock Holmes team: de SEM-EDX.
SEM-EDX is kort voor Scanning Electron Microscopy – Energy Dispersive
X-ray spectroscopy of Rasterelektronmicroscopie met Energiedispersieve
X-stralenspectroscopie. Dat is een hele mondvol voor een techniek waarmee hogeresolutiebeelden
gemaakt kunnen worden, in combinatie met chemische analyse van het oppervlak.
SEM brengt verschillende soorten
samples in beeld
Met behulp van SEM kunnen verscheidene soorten monsters in detail in beeld bestudeerd worden:
- op een gebroken onderdeel kan studie van het breukvlak d.m.v. SEM het type breuk opleveren
- opbouw en diktebepaling van coatinglagen
- de oppervlakteconditie van bv. zittingen kan in beeld gebracht worden
- de aanwezigheid van fijne scheurtjes in bv. bouten.
Elektronenmicroscopie: de
voordelen
Het grote voordeel van SEM t.o.v. lichtmicroscopie is de excellente
dieptescherpte en de hogere vergrotingen die kunnen bereikt worden. Een
vergroting tot 10000x is haalbaar hoewel reeds bij kleine vergrotingen details
tevoorschijn komen die optisch niet zichtbaar zijn. Ook metallografische
preparaten kunnen onderzocht worden, mits het aanbrengen van een
elektrisch-geleidende coating.
SEM in verschillende modi
Beeldvorming door middel van elektronenmicroscopie kan in verschillende modi, elk met een specifiek doel:
- In de secundaire-elektronenmodus zijn de aangeleverde beelden makkelijk te interpreteren om bv. de oppervlakteconditie te evalueren of scheurtjes te detecteren.
- De backscattered-electronmodus kan samenstellingsverschillen in één oogopslag visualiseren: zware fases zullen helderder oplichten dan minder dense gebieden.
Chemische analyse met EDX
Behalve beeldvorming kan een elektronenmicroscoop ook chemische analyses
uitvoeren. Alle chemische elementen vanaf koolstof (Z≥6) kunnen
semikwantitatief gedetecteerd worden. Hierdoor is het mogelijk om de
samenstelling van verschillende soorten materialen te bepalen.
Enkele typische voorbeelden zijn:
- analyses van corrosieproducten om eventuele agressieve componenten te detecteren zoals chloriden
- karakterisatie van afzettingen aangetroffen in leidingen/reactoren
- bepaling van het type (roestvast) staal: bv. 304 vs 316
Aan de hand van EDX kunnen ook puntanalyses gericht uitgevoerd
worden om bv. de samenstelling van precipitaten of intermetallische
verbindingen te bepalen op een metallografisch sample.
Strikt genomen kunnen met EDX geen chemische verbindingen bepaald worden
maar slechts de aanwezige chemische elementen. Niettemin kan een ervaren
operator aan de hand van de opgemeten spectra een goede inschatting maken van
de samenstelling van het onderzochte monster.
De mogelijkheid om beeldvorming met SEM te combineren met chemische
analyses door EDX maakt een elektronenmicroscoop dus een onmisbare hulp bij
alle types materiaalonderzoek.
Wenst u meer informatie omtrent schadeonderzoeken of andere
materiaalonderzoeken of wilt u een SEM-EDX analyse uitvoeren? Neem zeker
contact met ons op via info@metalogic.be en wij helpen u graag verder.